Neue Methoden für den Massiv-Parallel-Test im Hochvolumen, Yield Learning und beste Testqualität (MAYA)
Das Projekt MAYA wird vom BMBF gefördert, die Arbeitsgruppe ist hier Unterauftragnehmer von Philips, Hamburg. Ziel des Projektes ist die Verbesserung des Testens von Schaltkreisen auf funktionale Fehler, die während der Produktion entstanden sind. Insbesondere sollen die Testkosten gesenkt und die Testzeiten reduziert werden.
Contact: Prof. Dr. Rolf Drechsler
