Homepage
Sitemap
Kontakt




Universität Bremen Universität Bremen Fachbereich 3 Informatik
Home « Service « Aktuelles


» Auch in der Wissenschaft gilt „Dreimal ist Bremer Recht“

Informatiker der Universität Bremen auf internationaler Konferenz für Dissertation ausgezeichnet

Bereits zum dritten Mal ist Dr. Stephan Eggersglüß für seine Dissertation ausgezeichnet worden. Jetzt wurde dem Bremer Informatiker aus der AG Rechnerarchitektur unter der Leitung von Professor Rolf Drechsler der EDAA Outstanding Dissertation Award 2011 verliehen. Überreicht wurde ihm der Preis vom EDAA Vice-Chair Professor Georges Gielen von der Universität Leuven in Belgien auf der Design, Automation and Test in Europe (DATE) Konferenz in Dresden. Verbunden mit der Auszeichnung ist neben einem Geldpreis in Höhe von 1.000 Euro auch eine Veröffentlichung der Dissertation in der Springer Outstanding Monograph Serie.

Die EDAA (European Design and Automation Association) vergibt jährlich nach einer weltweiten Ausschreibung den EDAA Outstanding Dissertation Award in vier Kategorien zur Anerkennung der Wichtigkeit universitärer Forschung im Bereich des Entwurfs und Tests von Schaltkreisen und Systemen. Zuvor hatte die Doktorarbeit von Stephan Eggersglüß bereits mit dem Bremer Studienpreis 2011 (Sonderpreis der Firma Bruker Daltonik) und dem IEEE TTTC's E.J. McCluskey Best Doctoral Thesis Award 2010 nationale und internationale Anerkennung gefunden.

Inhaltlich befasst sich Dr. Eggersglüß in seiner Dissertation mit neuen Verfahren zur Testgenerierung für Computerchips. Fertigungsfehler in Computerchips beeinflussen das alltägliche Leben auf verschiedene Weise. Der Ausfall eines Chips zum Beispiel in einem Mobiltelefon ist für den Nutzer meist nur ärgerlich. Versagt ein Chip jedoch im Betrieb eines Automobils, kann es unter Umständen lebensbedrohlich werden, wenn er beispielsweise den Airbag steuert. Aufgrund der kleinen Fertigungsstrukturen im Nanometer-Bereich sind Fertigungsfehler bei der Produktion einer Schaltung keine Seltenheit mehr. Die Frage ist nicht, ob es Fertigungsfehler in einer Produktionsreihe gibt, sondern wie sich die defekten Chips zuverlässig aussortieren lassen. Hierfür wird jeder Chip nach der Fertigung einem umfangreichen Test unterzogen, welcher meist über die Hälfte der Produktionskosten ausmacht.

Da die Komplexität heutiger Schaltungen jedoch immer weiter steigt, stoßen die klassischen Verfahren zur Testgenerierung an ihre Grenzen. Oft sind diese Methoden nicht mehr in der Lage die geforderte Testqualität zu liefern. Hierdurch erhöht sich die Gefahr, dass defekte Chips den Test passieren und im Betrieb versagen - mit möglicherweise fatalen Folgen. In seiner Dissertation thematisiert Dr. Stephan Eggersglüß die Entwicklung von neuen Methoden für die Testgenerierung, um die Testqualität zu verbessern. Die in enger Zusammenarbeit mit Philips/NXP Semiconductors entwickelten Methoden zeichnen sich insbesondere durch eine hohe Zuverlässigkeit aus. Diese erlaubt es, die Testqualität signifikant zu steigern, was insbesondere durch Experimente an großen industriellen Schaltungen mit mehreren Millionen Elementen gezeigt wurde.


Kontakt:
Dr. Stephan Eggersglüß
Prof. Dr. Rolf Drechsler

Herkunft:
Pressemitteilung der Universität Bremen | Nr. 100 / 20. März 2012 SC

Erfassungsdatum: 20.03.2012 | Nr. 145





English









Zum Seitenanfang Zur Homepage
Zur Sitemap
Kontakt