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Universität Bremen Universität Bremen Fachbereich 3 Informatik
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Test digitaler Schaltungen (03-701.52) 

Veranstalter: Prof. Dr. Rolf Drechsler

Die Fertigung einer digitalen Schaltungen ist ein komplexer technischer Prozess, der bereits durch geringe Abweichungen zu einem fehlerhaften Chip führen kann. Aus diesem Grund wird jeder Chip nach der Fertigung auf korrekte Funktionsweise getestet. Als Grundlage dienen Fehlermodelle, die von den physikalisch vorliegenden Fehlern abstrahieren. Auf Basis dieser Fehlermodelle werden Testmuster berechnet. Da viele der sich ergebenden Probleme von hoher Komplexität sind, müssen hochentwickelte Algorithmen verwendet werden, um die notwendigen Testmuster zu berechnen. Innerhalb des Seminars sollen folgende Teilgebiete des digitalen Schaltungstest beleuchtet werden:

  • Fehlermodelle
  • Verwendete Datenstrukturen
  • Algorithmen zur Automatische Testmustergenerierung (ATPG)
  • Veränderungen der Hardware zur besseren Testbarkeit
  • Probleme beim Test sequentieller Schaltkreise
Thema
Vortragende
Folien
Ausarbeitung
SAT-basierte Testmustergenerierung Cemal Aslan
Stephan Eggersgluess
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Klassische Verfahren: Würfelkalkül Cui Jian
Zijia Liu
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SOCRATES Stefanie Meyer pdf ps



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[Folien (außer Übungsblätter) nur aus dem Campusnetz erreichbar]






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