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Universität Bremen Universität Bremen Fachbereich 3 Informatik
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» Publikationen von Harshad Dhotre


BÜCHER


BUCHBEITRÄGE


ZEITSCHRIFTEN


KONFERENZEN


» Identification of Efficient Clustering Techniques for Test Power Activity on the Layout




Autor:

Harshad Dhotre, Stephan Eggersglüß, Rolf Drechsler
Konferenz:
26th IEEE Asian Test Symposium (ATS)
Referenz:

Taipei, Taiwan, 2017
Hyperlink:

[Link zur Konferenz]


» Machine Learning Based Test Pattern Analysis for Localizing Critical Power Activity Areas




Autor:

Harshad Dhotre, Stephan Eggersglüß, Mehdi Dehbashi, Ulrike Pfannkuchen, Rolf Drechsler
Konferenz:
30th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
Referenz:

Cambridge, UK, 2017
Hyperlink:

[Link zur Konferenz]
PDF:

[hier ansehen]


WORKSHOPS


» A Lightweight Method for Transient Test Power Pattern Analysis for Pattern Selection




Autor:

Harshad Dhotre, Stephan Eggersglüß
Workshop:
29. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2017)
Referenz:

Lübeck, Germany, 2017
Hyperlink:

[Link zum Workshop]

















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