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Universität Bremen Universität Bremen Fachbereich 3 Informatik
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» Publikationen von Hongyan Zhang


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ZEITSCHRIFTEN


KONFERENZEN


» Fault Ordering for Automatic Test Pattern Generation of Reversible Circuits




Autor:

Robert Wille, Hongyan Zhang, Rolf Drechsler
Konferenz:
43rd International Symposium on Multiple-Valued Logic (ISMVL)
Referenz:

pp. 29-34, Toyama, 2013
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» Improved Fault Diagnosis for Reversible Circuits




Autor:

Hongyan Zhang, Robert Wille, Rolf Drechsler
Konferenz:
Asian Test Symposium (ATS)
Referenz:

New Delhi, 2011
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» Determining Minimal Testsets for Reversible Circuits Using Boolean Satisfiability




Autor:

Hongyan Zhang, Stefan Frehse, Robert Wille, Rolf Drechsler
Konferenz:
10th IEEE Africon
Referenz:

Livingstone, 2011
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» ATPG for Reversible Circuits Using Simulation, Boolean Satisfiability, and Pseudo Boolean Optimization




Autor:

Robert Wille, Hongyan Zhang, Rolf Drechsler
Konferenz:
IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI)
Referenz:

pp. 120-125, Chennai, 2011
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PDF:

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WORKSHOPS


» SAT-based ATPG for Reversible Circuits




Autor:

Hongyan Zhang, Robert Wille, Rolf Drechsler
Workshop:
5th International Design & Test Workshop (IDT)
Referenz:

pp. 149-154, Abu Dhabi, 2010
Hyperlink:

[Link zum Workshop]

















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