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Universität Bremen Universität Bremen Fachbereich 3 Informatik
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» Publikationen von Junhao Shi


BÜCHER


BUCHBEITRÄGE


ZEITSCHRIFTEN

» Synthesis of Fully Testable Circuits from BDDs
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Autor:

Rolf Drechsler, Junhao Shi, Görschwin Fey
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Details:
Volume 23, Number 3, March
Jahr:


2004





KONFERENZEN


» Efficiency of Multiple-Valued Encoding in SAT-based ATPG




Autor:

Görschwin Fey, Junhao Shi, Rolf Drechsler
Konferenz:
IEEE International Symposium on Multiple-Valued Logic (ISMVL '06)
Referenz:

Singapore, 2006
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» Experimental Studies on SAT-based Test Pattern Generation for Industrial Circuits




Autor:

Junhao Shi, Görschwin Fey, Rolf Drechsler, Andreas Glowatz, Jürgen Schlöffel, Friedrich Hapke
Konferenz:
International Conference on ASIC (ASICON 2005)
Referenz:

pp. 967-970, Shanghai, 2005
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PDF:

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» PASSAT: Efficient SAT-based Test Pattern Generation




Autor:

Junhao Shi, Görschwin Fey, Rolf Drechsler, Andreas Glowatz, Friedrich Hapke, Jürgen Schlöffel
Konferenz:
IEEE Annual Symposium on VLSI (ISVLSI '05)
Referenz:

pp.212-217, Tampa, Florida, 2005
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PS:

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» Bridging Fault Testability of BDD Circuits




Autor:

Junhao Shi, Görschwin Fey, Rolf Drechsler
Konferenz:
Asia and South Pacific Design Automation Conference 2005 (ASP-DAC 2005)
Referenz:

pp. 188-191 Shanghai, 2005
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» BDD Circuit Optimization for Path Delay Fault Testability




Autor:

Görschwin Fey, Junhao Shi, Rolf Drechsler
Konferenz:
Euromicro Symposium on Digital System Design (DSD'2004)
Referenz:

pp. 168-172, Rennes, 2004
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PS:

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» BDD based Synthesis of Symmetric Functions with Full Path-Delay Fault Testability




Autor:

Junhao Shi, Görschwin Fey, Rolf Drechsler
Konferenz:
Twelfth Asian Test Symposium (ATS03)
Referenz:

p.290-293, Xi'an, 2003
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PS:

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» MuTaTe: An Efficient Design for Testability Technique for Multiplexor based Circuits




Autor:

Rolf Drechsler, Junhao Shi and Görschwin Fey
Konferenz:
IEEE Great Lakes Symposium on VLSI (GLSV'03)
Referenz:

p. 80-83, Washington, 2003
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PDF:

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PS:

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WORKSHOPS


» Efficiency of Multi-Valued Encoding in SAT-based ATPG




Autor:

Görschwin Fey, Junhao Shi , Rolf Drechsler
Workshop:
18. Workshop „Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen“
Referenz:

Titisee, 2006


» PASSAT: Efficient SAT-based Test Pattern Generation




Autor:

Junhao Shi, Görschwin Fey, Rolf Drechsler, Andreas Glowatz, Friedrich Hapke, Jürgen Schlöffel
Workshop:
IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS)
Referenz:

Sopron, 2005
PS:

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» Experimental Studies on Test Pattern Generation for BDD Circuits




Autor:

Junhao Shi, Görschwin Fey, Rolf Drechsler
Workshop:
International Workshop on Boolean Problems (IWSBP)
Referenz:

pp. 71-76, Freiberg, 2004
PDF:

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» Random Pattern Testability of Circuits Derived from BDDs




Autor:

Junhao Shi, Göschwin Fey and Rolf Drechsler
Workshop:
4th Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT'03)
Referenz:

p.70-78, Xi'an, 2003
PDF:

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» BDD based Synthesis of Symmetric Functions with Full Path-Delay Fault Testability




Autor:

Junhao Shi, Görschwin Fey and Rolf Drechsler
Workshop:
IEEE European Test Workshop (ETW'03)
Referenz:

pp. 109-110, Maastricht, 2003
PDF:

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» BDD Circuit Optimization for Path Delay Fault-Testability




Autor:

Görschwin Fey, Junhao Shi, Rolf Drechsler
Workshop:
15th ITG/GMM/GI Workshop Test methods and Reliability of Circuits and Systems
Referenz:

Timmendorfer Strand, 2003
PS:

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