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Universität Bremen Universität Bremen Fachbereich 3 Informatik
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» Publikationen von Kenneth Schmitz


BÜCHER


BUCHBEITRÄGE


ZEITSCHRIFTEN

» On Optimization-based ATPG and its Application for Highly Compacted Test Sets
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Autor:

Stephan Eggersglüß, Kenneth Schmitz, Rene Krenz-Baath, Rolf Drechsler
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Computer Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Details:
Vol. 35(12), pp. 2104-2117
Jahr:


2016





KONFERENZEN


» Trust is good, Control is better: Hardware-based Instruction-Replacement for Reliable Processor-IPs




Autor:

Kenneth Schmitz, Arun Chandrasekharan, Jonas Gomes Filho, Daniel Große, Rolf Drechsler
Konferenz:
22nd Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
Referenz:

Chiba/Tokyo, Japan, 2017
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» Ensuring Safety and Reliability of IP-based System Design – A Container Approach




Autor:

Arun Chandrasekharan, Kenneth Schmitz, Ulrich Kühne, Rolf Drechsler
Konferenz:
IEEE International Symposium on Rapid System Protoyping (RSP), 2015
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» Optimization-based Multiple Target Test Generation for Highly Compacted Test Sets




Autor:

Stephan Eggersglüß, Kenneth Schmitz, Rene Krenz-Baath, Rolf Drechsler
Konferenz:
19th IEEE European Test Symposium (ETS)
Referenz:

Paderborn, Germany, 2014
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PDF:

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WORKSHOPS


» Verilog2GEXF - Dynamic Large Scale Circuit Visualization




Autor:

Kenneth Schmitz, Jannis Stoppe, Rolf Drechsler
Workshop:
4th Workshop on Design Automation for Understanding Hardware Designs (DUHDe)
Referenz:

Lausanne, Switzerland, 2017
Hyperlink:

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» Using Lightweight Containers in Hardware/Software Co-Design for Security




Autor:

Daniel Große, Kenneth Schmitz, Rolf Drechsler
Workshop:
Workshop on Computer-Aided Design and Implementation for Cryptography and Security (CADICS)
Referenz:

Austin, USA, 2016
Hyperlink:

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» Hohe Testmengenkompaktierung durch formale Optimierungstechniken




Autor:

Stephan Eggersglüß, Kenneth Schmitz, Rene Krenz-Baath, Rolf Drechsler
Workshop:
Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ)
Referenz:

Bad Staffelstein, 2014
Hyperlink:

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» Using Optimization Techniques to Increase Test Compaction




Autor:

Stephan Eggersglüß, Kenneth Schmitz, Rene Krenz-Baath, Rolf Drechsler
Workshop:
IEEE 14th Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT'13)
Referenz:

Yilan, Taiwan, 2013
Hyperlink:

[Link zum Workshop]

















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