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Universität Bremen Universität Bremen Fachbereich 3 Informatik
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» Publikationen von Mehdi Dehbashi


BÜCHER

» Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
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Verlag:


Springer
Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey
Format:
eBook, Hardcover
Erscheinungsjahr:


2015




BUCHBEITRÄGE


ZEITSCHRIFTEN

» Transaction-based online debug for NoC-based multiprocessor SoCs
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Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey
Zeitschrift:
Microprocessors and Microsystems (MICPRO)
Details:
39(3): 157-166
Jahr:


2015




» Debug Automation for Logic Circuits Under Timing Variations
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Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey
Zeitschrift:
IEEE Design & Test of Computers
Details:
Volume 30, Issue 6, pp. 60-69
Jahr:


2013




» Automated Design Debugging in a Testbench-Based Verification Environment
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Autor:

Mehdi Dehbashi, André Sülflow, Görschwin Fey
Zeitschrift:
Embedded Hardware Design - Microprocessors and Microsystems (MICPRO)
Details:
Volume 37, Issue 2, pp. 206-217
Jahr:


2013





KONFERENZEN


» Machine Learning Based Test Pattern Analysis for Localizing Critical Power Activity Areas




Autor:

Harshad Dhotre, Stephan Eggersglüß, Mehdi Dehbashi, Ulrike Pfannkuchen, Rolf Drechsler
Konferenz:
30th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
Referenz:

Cambridge, UK, 2017
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» Automated Formal Verification of X Propagation with Respect to Testability Issues




Autor:

Mehdi Dehbashi, Daniel Tille, Ulrike Pfannkuchen, Stephan Eggersglüß
Konferenz:
IEEE International Design and Test Symposium 2014 (IDT)
Referenz:

pp. 106-111, Algiers, Algerien, 2014
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» SAT-Based Speedpath Debugging Using Waveforms




Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey
Konferenz:
19th IEEE European Test Symposium (ETS)
Referenz:

Paderborn, Germany, 2014
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» Transaction-Based Online Debug for NoC-Based Multiprocessor SoCs




Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey
Konferenz:
22nd Euromicro Conference on Parallel, Distributed and Network-Based Processing (PDP)
Referenz:

Turin, Italy, 2014
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» Debug Automation for Synchronization Bugs at RTL




Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey
Konferenz:
27th International Conference on VLSI Design
Referenz:

pp. 44-49, Mumbai, India, 2014
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» Efficient Automated Speedpath Debugging




Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey
Konferenz:
16th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS)
Referenz:

pp. 48-53, Karlovy Vary, Czech Republic, 2013
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» Automated Post-Silicon Debugging of Failing Speedpaths




Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey
Konferenz:
21st IEEE Asian Test Symposium (ATS)
Referenz:

pp. 13-18, Niigata, Japan, 2012
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» Application of Timing Variation Modeling to Speedpath Diagnosis




Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey
Konferenz:
4th International Conference on System, Software, SoC and Silicon Debug (S4D)
Referenz:

pp. 34-37, Vienna, Austria, 2012
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» On Modeling and Evaluation of Logic Circuits Under Timing Variations




Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey, Kaushik Roy, Anand Raghunathan
Konferenz:
15th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD)
Referenz:

pp. 431-436, Izmir, Turkey, 2012
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» Automated Debugging from Pre-Silicon to Post-Silicon




Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey
Konferenz:
15th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS)
Referenz:

pp. 324-329, Tallinn, Estonia, 2012
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» Functional Analysis of Circuits Under Timing Variations




Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey, Kaushik Roy, Anand Raghunathan
Konferenz:
17th IEEE European Test Symposium (ETS)
Referenz:

pp. 177, Annecy, France, 2012
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» Automated Post-Silicon Debugging of Design Bugs




Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey
Konferenz:
3rd International Conference on System, Software, SoC and Silicon Debug (S4D)
Referenz:

pp. 67-71, Munich, Germany, 2011
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» Automated Design Debugging in a Testbench-Based Verification Environment




Autor:

Mehdi Dehbashi, André Sülflow, Görschwin Fey
Konferenz:
14th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD)
Referenz:

pp. 479-486, Oulu, Finland, 2011
Best Paper Candidate
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» Fault Effects in FlexRay-Based Networks with Hybrid Topology




Autor:

Mehdi Dehbashi, Vahid Lari, Seyed Ghassem Miremadi, Mohammad Shokrollah-Shirazi
Konferenz:
3rd IEEE International Conference on Availability, Reliability and Security (ARES)
Referenz:

pp. 491-496, Barcelona, Spain, 2008
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» Evaluation of Babbling Idiot Failures in FlexRay-Based Networks




Autor:

Vahid Lari, Mehdi Dehbashi, Seyed Ghassem Miremadi, Mojtaba Amiri
Konferenz:
7th IFAC International Conference on Fieldbuses and Networks in Industrial and Embedded Systems (FET)
Referenz:

pp. 399-406, Toulouse, France, 2007
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» Assessment of Message Missing Failures in FlexRay-Based Networks




Autor:

Vahid Lari, Mehdi Dehbashi, Seyed Ghassem Miremadi, Navid Farazmand
Konferenz:
13th IEEE/IFIP Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC)
Referenz:

pp. 191-194, Melbourne, Australia, 2007
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WORKSHOPS


» Debug Automatisierung für logische Schaltungen unter Zeitvariation mittels Waveforms




Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey
Workshop:
26. GI/GMM/ITG Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ)
Referenz:

Bad Staffelstein, Germany, 2014
Hyperlink:

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» Towards Debug Automation for Timing Bugs at RTL




Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey
Workshop:
25. GI/GMM/ITG Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ)
Referenz:

Dresden, Germany, 2013
PDF:

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Hyperlink:

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» Functional Analysis of Circuits Under Timing Variations




Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey, Kaushik Roy, Anand Raghunathan
Workshop:
edaWorkshop
Referenz:

Hannover, Germany, 2012
PDF:

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Hyperlink:

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» Automated Debugging from Pre-Silicon to Post-Silicon




Autor:

Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey
Workshop:
24. GI/GMM/ITG Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ)
Referenz:

Cottbus, Germany, 2012
Hyperlink:

[Link zum Workshop]

















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