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Universität Bremen Universität Bremen Fachbereich 3 Informatik
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» Publikationen von Sebastian Huhn


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ZEITSCHRIFTEN


KONFERENZEN


» Revealing Properties of Structural Materials by Combining Regression-based Algorithms and Nano Indentation Measurements




Autor:

Sebastian Huhn, Heike Sonnenberg, Stephan Eggersglüß, Brigitte Clausen, Rolf Drechsler
Konferenz:
10th IEEE Symposium Series on Computational Intelligence (SSCI)
Referenz:

Hawaii, USA, 2017
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» Reconfigurable TAP Controllers with Embedded Compression for Large Test Data Volume




Autor:

Sebastian Huhn, Stephan Eggersglüß, Rolf Drechsler
Konferenz:
30th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
Referenz:

Cambridge, UK, 2017
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» Optimization of Retargeting for IEEE 1149.1 TAP Controllers with Embedded Compression




Autor:

Sebastian Huhn, Stephan Eggersglüß, Krishnendu Chakrabarty, Rolf Drechsler
Konferenz:
Design, Automation and Test in Europe (DATE)
Referenz:

Lausanne, Schweiz, 2017
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» Enhancing Robustness of Sequential Circuits Using Application-specific Knowledge and Formal Methods




Autor:

Sebastian Huhn, Stefan Frehse, Robert Wille, Rolf Drechsler
Konferenz:
22nd Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
Referenz:

Chiba/Tokyo, Japan, 2017
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» Exploring Superior Structural Materials Using Multi-Objective Optimization and Formal Techniques




Autor:

Rolf Drechsler, Stephan Eggersglüß, Nils Ellendt, Sebastian Huhn, Lutz Mädler
Konferenz:
6th IEEE International Symposium on Embedded Computing & System Design (ISED)
Referenz:

Indian Institute of Technology, Patna, India, 2016
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» VecTHOR: Low-cost compression architecture for IEEE 1149-compliant TAP controllers




Autor:

Sebastian Huhn, Stephan Eggersglüß and Rolf Drechsler
Konferenz:
IEEE European Test Symposium (ETS)
Referenz:

Amsterdam, Niederlande, 2016
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WORKSHOPS


» Leichtgewichtige Datenkompressions-Architektur für IEEE 1149.1-kompatible Testschnittstellen




Autor:

Sebastian Huhn, Stephan Eggersglüß and Rolf Drechsler
Workshop:
28. GI/GMM/ITG Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ)
Referenz:

Siegen, Germany, 2016
PDF:

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Hyperlink:

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