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Testdatenkompaktion durch Schieberegister mit vielen X‐Werten



Datum: 16.06.2010

Ort: Cartesium Rotunde


Vortragende(r): Martin Hilscher (Universität Potsdam)

Abstract

In unserem Alltag sind elektronische Geräte mit hochintegrierten Schaltkreisen allgegenwärtig. Jedes einzelne verkaufte Produkt muss eine umfassende Qualitätssicherung durchlaufen. Einen Teil dieser Qualitätssicherung stellt dabei der Produktionstest im Digitalbereich dar. Hier hat sich als Standard das scanbasierte Testen durchgesetzt, unter Verwendung der Testantwortdatenkompaktion. Ein großes Problem bei Testdatenkompaktion bilden deterministisch nicht vorher bestimmbare Testantworten, so genannte X‐Werte.

In diesem Vortrag wird ein neuer X‐toleranter Kompaktor vorgestellt.
Dieser Kompaktor basiert auf beschleunigten Schieberegistern, welche die Fähigkeiten aktueller Testergeräte optimal ausnutzen. Es werden keine Maskierungssignale benötigt und der Kompaktor erreicht eine hohe Kompaktionsraten von 500:1.


Biografie | Martin Hilscher

Martin Hilscher hat 2006 sein Diplom in der Informatik an der Universität Potsdam erhalten. Seit 2006 ist er
Doktorand in der Arbeitsgruppe Fehlertolerantes Rechnen unter der Leitung von Prof. Dr. Michael Gössel an
der Universität Potsdam. Seine Promotion befasst sich mit dem Test und der Diagnose von hochintegrierten
Schaltkreisen.









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