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31. / / - Workshop

Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2019)

24. - 26. Februar 2019 | Prien am Chiemsee


Programmkomitee

Tagungsleitung

  • Jürgen Alt, Intel Deutschland GmbH

Wissenschaftliche Tagungsleitung

  • Stephan Eggersglüß, Mentor, A Siemens Business

Mitglieder des Programmkomitees

  • J. Alt, Intel Deutschland GmbH
  • B. Becker, Universität Freiburg
  • R. Drechsler, Universität Bremen und DFKI
  • S. Eggersglüß, Mentor, A Siemens Business
  • P. Engelke, Infineon Technologies AG
  • G. Fey, Technische Universität Hamburg
  • M. Fischer, Advantest GmbH
  • M. Gössel, Universität Potsdam
  • S. Hellebrand, Universität Paderborn
  • K. Hofmann, Technische Universität Darmstadt
  • S. Holst, Kyushu Institute of Technology
  • W. Hoppe, Rheinmetall AG
  • F. Hopsch, Fraunhofer IIS EAS Dresden
  • R. Krenz-Baath, Hochschule Hamm-Lippstadt
  • M. Krstic, Universität Potsdam und IHP GmbH
  • A. Mayer, Infineon Technologies AG
  • N. Nebel, Robert Bosch GmbH
  • V. Petrovic, Robert Bosch GmbH
  • I. Polian, Universität Stuttgart
  • F. Pöhl, Intel Deutschland GmbH
  • S. Sattler, Universität Erlangen-Nürnberg
  • M. Sauer, Advantest GmbH
  • M. Schillinsky, NXP Semiconductors Germany GmbH
  • J. Schlöffel, Mentor, A Siemens Business
  • M. Schölzel, Universität Potsdam und IHP GmbH
  • J. Sepulveda, Technische Universität München
  • D. Tille, Infineon Technologies AG
  • M. Wahl, Universität Siegen
  • H.-J. Wunderlich, Universität Stuttgart

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