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29. / / - Workshop

Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2017)

5.-7. März 2017 | ParkInn Hotel, Lübeck


Programmkomitee

Tagungsleitung

  • Jürgen Schlöffel, Mentor Graphics Development (Deutschland) GmbH

Wissenschafliche Tagungsleitung

  • Stephan Eggersglüß, Universität Bremen/DFKI

Mitglieder des Programmkomitees

  • J. Alt, Intel Deutschland GmbH
  • W. Anheier, Universität Bremen
  • B. Becker, Universität Freiburg
  • R. Drechsler, Universität Bremen/DFKI
  • S. Eggersglüß, Universität Bremen/DFKI
  • P. Engelke, Infineon Technologies AG
  • G. Fey, Universität Bremen/Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt
  • M. Fischer, Advantest GmbH
  • A.-P. Fonseca-Müller, Bosch Sensortec GmbH
  • M. Gössel, Universität Potsdam
  • S. Hellebrand, Universität Paderborn
  • K. Hofmann, TU Darmstadt
  • W. Hoppe, Rheinmetall Technical Publications GmbH
  • F. Hopsch, Fraunhofer IIS EAS Dresden
  • M. Kochte, Universität Stuttgart
  • R. Krämer, IHP GmbH
  • F. Pöhl, Intel Deutschland GmbH
  • I. Polian, Universität Passau
  • S. Sattler, FAU Erlangen-Nürnberg
  • M. Sauer, Universität Freiburg
  • M. Schillinsky, NXP Semiconductors Germany GmbH
  • J. Schlöffel, Mentor Graphics Development (Deutschland) GmbH
  • M. Schölzel, IHP GmbH
  • H. Schmidt, IBM Deutschland Entwicklung GmbH
  • V. Schöber, Leibniz Universität Hannover
  • M. Tahoori, Karlsruhe Institut of Technology
  • D. Tille, Infineon Technologies AG
  • H. T. Vierhaus, BTU Cottbus-Senftenberg
  • R. Wagner, Robert Bosch GmbH
  • M. Wahl, Universität Siegen
  • H.-J. Wunderlich, Universität Stuttgart

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