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Universität Bremen Universität Bremen Fachbereich 3 Informatik
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» Publikationen von Marcel Merten


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ZEITSCHRIFTEN


KONFERENZEN


» Quality Assessment of RFET-based Logic Locking Protection Mechanisms using Formal Methods




Autor:

Marcel Merten, Sebastian Huhn, Rolf Drechsler
Konferenz:
IEEE European Test Symposium (ETS)
Referenz:

Barcelona, Spain, 2022
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» A Hardware-based Evolutionary Algorithm with Multi-Objective Optimization Operators for On-Chip Transient Fault Detection




Autor:

Marcel Merten, Sebastian Huhn, Rolf Drechsler
Konferenz:
40th IEEE VLSI Test Symposium (VTS)
Referenz:

San Diego, USA, 2022
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» A Codeword-based Compactor for On-Chip Generated Debug Data Using Two-Stage Artificial Neural Networks




Autor:

Marcel Merten, Sebastian Huhn, Rolf Drechsler
Konferenz:
34th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
Referenz:

Athens, Greece, 2021
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» ALF – A Fitness-Based Artificial Life Form for Evolving Large-Scale Neural Networks




Autor:

Rune Krauss, Marcel Merten, Mirco Bockholt, Rolf Drechsler
Konferenz:
The Genetic and Evolutionary Computation Conference (GECCO)
Referenz:

Lille, France, 2021
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» Efficient Machine Learning through Evolving Combined Deep Neural Networks




Autor:

Rune Krauss, Marcel Merten, Mirco Bockholt, Saman Fröhlich, Rolf Drechsler
Konferenz:
Genetic and Evolutionary Computation Conference (GECCO)
Referenz:

Electronic-only, 2020
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PDF:

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WORKSHOPS


» SAT-based Key Determination Attack for Improving the Quality Assessment of Logic Locking Mechanisms




Autor:

Marcel Merten, Mohammed E. Djeridane, Sebastian Huhn, Rolf Drechsler
Workshop:
15th International Workshop on Boolean Problems (IWSBP)
Referenz:

Bremen, 2022
PDF:

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» Quality Assessment of RFET-based Logic Locking Protection Mechanisms using Formal Methods




Autor:

Marcel Merten, Sebastian Huhn and Rolf Drechsler
Workshop:
34. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ)
Referenz:

Bremerhaven, Germany, 2022
PDF:

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Hyperlink:

[Link zum Workshop]


» A Codeword-based Compaction Technique for On-Chip Generated Debug Data Using Two-Stage Artificial Neural Networks




Autor:

Sebastian Huhn, Marcel Merten, Stephan Eggersglüß and Rolf Drechsler
Workshop:
30. GI/GMM/ITG Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ)
Referenz:

Freiburg (Breisgau), Germany, 2018
PDF:

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Hyperlink:

[Link zum Workshop]

















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