Workshop
Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2022)



Einreichung der Beiträge:
19.11.2021 (Terminverlängerung)
Benachrichtigung der Autoren:
17.12.2021
Einreichung der druckfertigen Endfassung:
21.01.2022 (Terminverlängerung)
Einreichung der Präsentation:
21.02.2022

Kontakt

Tagungsleitung

Dr.-Ing. Sebastian Huhn
Senior Researcher
Universität Bremen
Bibliothekstraße 5
28359 Bremen
E-Mail: huhn@uni-bremen.de

Wissenschaftliche Tagungsleitung

Prof. Dr.-Ing. Görschwin Fey
Professor f√ľr Technische Informatik
Technische Universität Hamburg
Am Schwarzenberg-Campus 3 (E)
21073 Hamburg
E-Mail: goerschwin.fey@tuhh.de




Web, Print Media & Fotografie
Lisa Jungmann,
Universität Bremen / DFKI GmbH

Lokale Organisation
Kristiane Schmitt,
DFKI GmbH




Veranstalter

VDE Verband der Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik e.V.
Gesellschaft Mikroelektronik, Mikrosystem- und Feinwerktechnik (GMM)
Dr. Ronald Schnabel
Stresemannallee 15
60596 Frankfurt/Main